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本发明属于光学仪器领域的一种全方位光束检测仪。用于光学与激光工程，光学与激光实验中光束准直与质量检测。该检验仪由有入射光阑屏构成固定部分和带有楔角的剪切干涉平板可绕入射光束光轴转动３６０°以及绕平板中心法线转动３６０°和含有固定和转动两块分...
该专利属于中国科学院上海光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海光学精密机械研究所授权不得商用。

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