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超微智能检查仪制造技术
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文档序号:2681569
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超微智能检查仪,用光学显微镜作一级放大、由投影目镜或由光学中继镜和连续变倍镜作二级放大,由光电转换系统作三级放大,特征是还设置有智能检查或诊断装置,该装置设有微电脑、图象采集接口、统计分析器及诊断器,图象采集接口与第三级放大机构联结,输出接...
该专利属于陈严绪所有,仅供学习研究参考,未经过陈严绪授权不得商用。
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