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本实用新型属于集成电路测试技术领域，尤其是一种集成电路测试平台，针对现有的集成电路检测设备都是将集成电路板插入到测试基座上来进行测试，通常会对集成电路电触点以及引脚产生磨损的问题，现提出如下方案，其包括测试台，所述测试台的顶部开设有凹槽，且...
该专利属于深圳市豪亿为科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市豪亿为科技有限公司授权不得商用。

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