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本发明提供了一种透射电镜图像分析方法，包括：输入步骤，其接收材料的具有图像像素值的原始图像；亮原子位形粗提取步骤，其依据图像像素值，获得原始图像中的亮斑的轮廓数据；亮原子位形精细计算步骤，其依据轮廓数据提取原始图像中包含有亮斑的区域的像素值...
该专利属于中国科学院物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院物理研究所授权不得商用。

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