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为解决表面缺陷检测信息不完善、精度和效率不高等问题，本发明提供一种基于偏振结构光成像技术和改进Mask R‑CNN的缺陷检测方法，首先将偏振处理和结构光三维成像相结合，获取物体高清晰度的二维实物图和三维空间信息，并对二维实物图进行中值滤波处...
该专利属于中国人民解放军空军工程大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国人民解放军空军工程大学授权不得商用。

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