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本发明提供一种用于神经网络处理器的故障检测方法，所述检测方法包括:S1、根据待检测处理器的应用场景，获取该场景中对故障敏感的测试样本组成的测试集；S2、将所述测试集输入待检测处理器中进行神经网络推理；S3、计算待检测处理器对测试集进行神经网...
该专利属于中国科学院计算技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院计算技术研究所授权不得商用。

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