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本发明提供一种高兼容SD卡模型和基于高兼容SD卡模型的控制器测试方法，所述SD卡模型包括：多类型参数物理层，所述多类型参数物理层配置有多种SD卡类型及各种SD卡类型对应的通信协议；功能参数描述层，所述功能参数描述层配置有多种SD卡类型对应的...
该专利属于苏州浪潮智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州浪潮智能科技有限公司授权不得商用。

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