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本发明实施例提供一种基于双谱谱比对数的品质因子估计方法及系统，该方法包括：获取零偏垂直地震剖面全波场数据，并对所述零偏垂直地震剖面全波场数据进行波场分离，获取下行波场；在所述下行波场中求取下行直达波，并计算含噪地震波的双谱；计算相邻道所述双...
该专利属于中化地质矿山总局地质研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中化地质矿山总局地质研究院授权不得商用。

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