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本发明公开了一种基于界面态陷阱能级分布的图像传感器质量检测方法。本发明基于半物理‑半解析的建模思路描述了不同界面态陷阱能级分布下满阱容量动态变化的行为，从而解决了现有PPD满阱容量检测方法中对于界面态陷阱设计考虑不完全导致所得结果仅能反应满...
该专利属于杭州电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过杭州电子科技大学授权不得商用。

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