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本发明涉及恒星光干涉光程差检测及条纹跟踪方法和系统，所述该光程差检测方法基于干涉光谱实现，利用色散棱镜获得干涉光束的干涉光谱，有效检测范围达到百微米量级，可快速捕获干涉条纹，同时实现光程差高精度检测。根据光程差检测结果进行条纹跟踪，通过延迟...该专利属于中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所授权不得商用。