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紫外发光二极管性能退化预测模型构建及寿命预测方法技术
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文档序号:26731065
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本发明公开了紫外发光二极管性能退化预测模型构建及寿命预测方法,属于紫外发光二极管寿命预测领域,模型构建方法包括:获取紫外发光二极管老化试验中多个时间点测试指标构成的原始时间序列测试数据;根据原始时间序列测试数据训练基于循环神经网络改进的长短...
该专利属于复旦大学所有,仅供学习研究参考,未经过复旦大学授权不得商用。
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