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本申请涉及电子束选区熔化增材制造技术领域，公开了一种阴极寿命预测方法。所述阴极寿命预测方法通过对所述EBSM打印设备进行打印试验，获取所述阴极在不同气压环境下，所述阴极的中毒深度与打印时间的变化关系，以建立所述阴极的中毒深度模型。在所述EB...该专利属于中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))授权不得商用。