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本实用新型公布了一种自动化芯片测试装置，它包括沿长度方向设置有滑槽的测试机体以及配设在所述滑槽上与滑槽活动连接的芯片安装座；其中测试机体沿竖直方向开设导通所述滑槽的上料口和检测口，在所述检测口的上端配设上芯片测试座；其中所述的芯片安装座与行...
该专利属于深圳市芯片测试技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市芯片测试技术有限公司授权不得商用。

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