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本发明提供了芯片测试方法及装置。预先在分选机转盘上设置至少两个工位，包括依序排列的对应第一测试项目的第一测试工位和对应第二测试项目的第二测试工位。工位杆的吸嘴从入料口吸附至少两个待测芯片依序进入分选机转盘；当第一待测芯片转入到第二测试工位上...
该专利属于南京派格测控科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过南京派格测控科技有限公司授权不得商用。

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