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正和/或负C片的薄膜设计制造技术
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下载正和/或负C片的薄膜设计的技术资料
文档序号:2665367
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薄膜涂层,例如其包括高、低折射率材料组成的交替层,根据入射光条件可作为正、负C片。特别地,延迟与入射角关系曲线的形状被发现可以由薄膜涂层的相位厚度(即以入射光波长表示的光学厚度,可通过角度、弧度或1/4波长数等形式表示)决定或至少部分决定。...
该专利属于JDS尤尼弗思公司所有,仅供学习研究参考,未经过JDS尤尼弗思公司授权不得商用。
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