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本发明公开了一种光扰偏器扰偏后光的偏振度测试方法，属于光学测量技术领域。现有技术使用偏振态分析仪，通过偏振度公式近似求得光扰偏器扰偏后光的偏振度，这种方法所需仪器昂贵、系统复杂。本发明所述方法包括如下步骤：使用单模光纤跳线依次连接保偏光源、...
该专利属于中电科仪器仪表有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中电科仪器仪表有限公司授权不得商用。

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