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一种可对芯片进行测试和平整度检测的芯片打磨机构制造技术
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文档序号:26643872
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本发明公开了一种可对芯片进行测试和平整度检测的芯片打磨机构,具体为底座、纵向导轨、传送带、集成芯片和夹持座,所述底座顶部的两侧均安装有驱动轨,且驱动轨内均固定有活动座,所述活动座的顶端均安装有支撑柱,且支撑柱一侧的中间位置处安装有控制面板,...
该专利属于彭良九所有,仅供学习研究参考,未经过彭良九授权不得商用。
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