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本发明提供了荧光显微镜和用它测量荧光的方法。该显微镜包含高度平坦和不发荧光的硅晶片过滤膜。此外，它具有非常高的孔眼密度，以便小的表面区域就足够用于有效测量。此外，将相机用作位置敏感检测器使得可以利用更好的光学分辨率，这意味着可以在较大工作距...
该专利属于Ｃ．Ｃ．Ｍ．控股有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过Ｃ．Ｃ．Ｍ．控股有限公司授权不得商用。

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