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本发明公开了一种多探头紧缩场天线测试系统和生成方法，包括天线阵列面板，天线辐射单元，波束赋形网络，极化控制转台，被测天线，测试仪表，多轴转台和控制模块；该测试系统采用一维，二维和三维均匀与非均匀对称分布阵列，通过映射函数对天线辐射单元的数量...
该专利属于苏州益谱电磁科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州益谱电磁科技有限公司授权不得商用。

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