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通过双能量辐射扫描和缓发中子探测来检查物体制造技术
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下载通过双能量辐射扫描和缓发中子探测来检查物体的技术资料
文档序号:2658785
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在一个实施例中,检查物体内容的方法包括:以第一和第二辐射能量扫描物体;探测第一和第二能量下的辐射;以及对对应像素计算在第一和第二能量下探测的辐射的第一函数。像素是通过物体的辐射在探测器上的投影。对多个像素的第一函数分组,并分析该组的第二函数...
该专利属于瓦润医药系统公司所有,仅供学习研究参考,未经过瓦润医药系统公司授权不得商用。
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