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一种用于小袋完整性测试的方法和系统。该方法包括以下步骤：相对于电极结构设置小袋的至少一部分；给电极结构施加交流偏置电压；在频率范围内测量小袋的部分的电性能；并基于在该频率范围内测得的电性能确定完整性。...
该专利属于新加坡国立大学所有，仅供学习研究参考，未经过新加坡国立大学授权不得商用。

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