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一种芯片电容器检测设备制造技术
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文档序号:26523025
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本发明属于芯片电容器测试领域,具体涉及一种芯片电容器检测设备,包括用于芯片电容器上料的上料装置,用于检测芯片电容器电性能的电性能检测装置,用于收纳电性能不良品的电性能不良品料盘,用于测试芯片电容器外观的外观检测装置,用于收纳传送检测合格的芯...
该专利属于广州创天电子科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过广州创天电子科技有限公司授权不得商用。
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