温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种显示装置和显示装置的密封检测方法，以改善现有技术对封装效果进行监控与检测方法均存在判断效率低、结构复杂等弊端，且存在无法进行二次修补的缺点的问题。所述显示装置包括：相对设置的阵列基板和封装盖板，所述阵列基板与所述封装盖板之间...该专利属于合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司授权不得商用。