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本发明涉及电路板测试设备技术领域，更具体地说，涉及一种薄膜电路板测试系统，包括夹持部、滑动支撑部、间距调节部、角度调节部和基座，所述夹持部设有两个，两个所述夹持部相对转动配合在两个所述滑动支撑部上；两个所述滑动支撑部相对滑动配合在所述基座上...
该专利属于张克引所有，仅供学习研究参考，未经过张克引授权不得商用。

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