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本发明涉及一种相控阵天线相位校准测量系统及方法，该系统包括待测相控阵天线，测量暗箱，测量探头。通过在远场增加测量探头的观测角度，测量待测相控阵天线不同配相状态下探头的接收信号，通过本发明提出的算法计算出相控阵天线各个阵列单元初始的幅度和相位...
该专利属于北京航空航天大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京航空航天大学授权不得商用。

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