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本申请涉及一种基于Van Atta阵的介电常数测量系统和方法。所述系统包括测量天线阵、Van Atta阵和介电常数计算设备。测量天线阵设置在Van Atta阵的远场区，用于发射测量信号和接收测量信号经待测物作用和Van Atta阵反射后的反...
该专利属于中国人民解放军国防科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国人民解放军国防科技大学授权不得商用。

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