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通用可编程集成电路及微机测试仪制造技术
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文档序号:2646759
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本实用新型提供了一种可编程集成电路与微机系统故障检测仪。属于电子测量设备类。本检测仪主要解决了集成电路和微机系统逻辑测试的一体化;可测Z80-CPU、PIO、及62256、8255等大规模芯片、O&74及4000系列、多种计算机系系统、40...
该专利属于田国璋所有,仅供学习研究参考,未经过田国璋授权不得商用。
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