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FPGA结温测试的校准装置制造方法及图纸
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文档序号:26431719
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本实用新型实施例提供了一种FPGA结温测试的校准装置,其特征在于,包括设置在高低温箱内的待结温测试的FPGA,和与FPGA的结温测试管脚连接的温度AD转换器;以及设置在高低温箱外的第一数字处理单元,所述第一数字处理单元显示所述温度AD转换器...
该专利属于上海精密计量测试研究所所有,仅供学习研究参考,未经过上海精密计量测试研究所授权不得商用。
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