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本实用新型公开了一种用于对形成在待测物上的第一条纹检测的测量机构，包括第二摩尔纹部件，所述第二摩尔纹部件具有与第一条纹不同的第二条纹，承载部件，所述承载部件包括用于承载所述待测物的第一承载部和用于承载所述第二摩尔纹部件的第二承载部，所述第二...
该专利属于梁健;贾若愚所有，仅供学习研究参考，未经过梁健;贾若愚授权不得商用。

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