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可测试精密电阻的万用测试装置制造方法及图纸
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文档序号:2642885
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本实用新型为一种可测试精密电阻的万用测试装置,其包含有:一针盘组,一端与测试设备连接,其针盘组上布设有矩阵排列的测试点,每一测试点上预先定义有独立编号。一测试盘,其上布设有复数导接点,每一导接点上预先定义有独立编号,用以与针盘组上相同编号的...
该专利属于吴美惠所有,仅供学习研究参考,未经过吴美惠授权不得商用。
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