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本申请提供一种磁瓦表面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，磁瓦表面缺陷检测方法包括：获取待检测磁瓦图像；输入所述待检测磁瓦图像至预设的特征提取网络模型，得到特征提取图像；输入所述特征提取图像至预设的分类网络模型，得到对应的缺陷检测得分；...
该专利属于创新奇智(上海)科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过创新奇智(上海)科技有限公司授权不得商用。

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