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一种大斜视中高轨SAR二维波束扫描方法技术
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文档序号:26416244
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本发明公开了一种大斜视中高轨SAR二维波束扫描方法,首先通过雷达成像时间、GPS数据和场景位置得到成像几何参数,结合成像几何和目标分辨率设计得到雷达的最优合成孔径时间和带宽,由雷达的最优合成孔径时间和带宽得到方位波束扫描速率,进而通过场景中...
该专利属于西安电子科技大学所有,仅供学习研究参考,未经过西安电子科技大学授权不得商用。
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