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本实用新型属于微波光子学领域，为解决现有光量化方案存在的量化精度低问题，公开了一种基于光注入半导体激光器的光电量化装置及其方法，包括主激光器、光衰减器、第一偏振控制器、强度调制器、待测模拟电信号源、采样保持电路、第二偏振控制器、光环行器、半...
该专利属于苏州大学所有，仅供学习研究参考，未经过苏州大学授权不得商用。

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