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本发明公开了一种相控阵天线系统级测试系统及测试方法，其中，系统包括：天线阵列，天线阵列包括至少两个测试天线和隔离材料，用于对待测试的相控阵天线进行预设距离内的系统级近场测试；微波暗室，天线阵列与相控阵天线均设置在微波暗室内；仪表，仪表包括信...
该专利属于深圳市通用测试系统有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市通用测试系统有限公司授权不得商用。

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