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一种半导体护散长度测量仪，其特征是光源由恒流脉冲发生器和红外发光二极管构成，用多个干涉滤光片将波长为８５００＊～１０５００＊的光谱分离成不同中心波长的单色光，采用Ｙ型光缆将光能耦合到测试样品正面和ＰＩＮ光电二极管，设有光谱响应度补偿电路，所...
该专利属于浙江大学所有，仅供学习研究参考，未经过浙江大学授权不得商用。

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