温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供在ＬＳＩ中的时间常数检测电路，以检测在ＬＳＩ中作为时间常数的电阻和电容元件值的变化。模拟开关１和３在周期Ｔ（秒）内分别交替地接通和断开，以控制电容２的充放电。电容２的电容量Ｃ形成电阻Ｒ↓［ｐ］＝Ｔ／Ｃ的伪电阻６，预定ＤＣ电压Ｖ↓［...
该专利属于日本电气株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过日本电气株式会社授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。