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本发明提供了一种控制擦除性能的方法和装置。所述方法包括：接收擦除操作指令，根据擦除操作指令，对存储单元执行第一次擦除验证操作，记录第一次擦除验证通过的存储单元的地址，根据记录的地址，对第一次擦除验证通过的存储单元执行擦除保护操作，对第一次擦...该专利属于北京兆易创新科技股份有限公司;西安格易安创集成电路有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京兆易创新科技股份有限公司;西安格易安创集成电路有限公司授权不得商用。