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一种适用于地外天体的触碰采样器制造技术
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下载一种适用于地外天体的触碰采样器的技术资料
文档序号:26372276
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本发明涉及一种适用于地外天体的触碰采样器,包括:采样导流罩、气动冲击破岩机构、柔性弹簧等;采样导流罩位于所述触碰采样器底端,气体激励喷嘴位于采样导流罩内侧,气动冲击破岩机构安装在采样导流罩内侧,柔性弹簧安装在采样导流罩上端,气动展开机构安装...
该专利属于北京卫星制造厂有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京卫星制造厂有限公司授权不得商用。
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