温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

一种基于双应力加速贮存试验的传感器寿命获取方法，属于传感器领域，本发明为解决只采用温度单应力进行加速贮存试验来获取传感器寿命，其结果不准确的问题。本发明方法包括以下步骤：步骤一、将传感器进行温湿度双应力加速贮存试验，具体过程为：对传感器施加...
该专利属于中国电子科技集团公司第四十九研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第四十九研究所授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。