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为了解决现有技术中针对试样的测量方式存在无法对试样分类的问题，本发明提供一种标准试样尺寸测量方法、系统及应用，包括以下步骤：S1.通过扫码组件确定样品来料信息，并将该信息发送至控制端，由控制端形成对应该样品的二维码；S2.将S1步骤已扫描的...
该专利属于国高材高分子材料产业创新中心有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过国高材高分子材料产业创新中心有限公司授权不得商用。

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