下载基于特定应用事件的半导体测试系统的技术资料

文档序号:2637030

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

用于测试半导体设备的半导体测试系统,尤其是具有在主机架内的多个不同类型的测试器模块和在测试固定装置内对于被测器件是唯一的测量模块的半导体测试系统,是一种低费用、应用特定的系统。该测试系统包括两个或更多其性能彼此不同的测试器模块,用于容纳两个...
该专利属于株式会社鼎新所有,仅供学习研究参考,未经过株式会社鼎新授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。