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一种集成电路（２）设有用于测试正确操作的串行测试扫描链（１０）。利用复位信号生成扫描链单元（２０）可以测试异步复位信号操作，所述复位信号生成扫描链单元被这样适配，使得保存在该单元的锁存器（１４）内的复位信号值由扫描使能信号以异步方式选通，从...
该专利属于ARM有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过ARM有限公司授权不得商用。

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