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一种用于在一集成电路中、测试在一电容数组中之复数电容（Ｃ↓［０］，…，Ｃ↓［Ｎ］）的装置，其系包括一电源（６），以及一用于对该等电容（Ｃ↓［０］，…，Ｃ↓［Ｎ］）的至少其中之一循环地进行充电以及放电的装置（Ｓ↓［１］［ｎ］，１２，７，８），...
该专利属于因芬尼昂技术股份公司所有，仅供学习研究参考，未经过因芬尼昂技术股份公司授权不得商用。

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