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本发明涉及一种用于对部件进行无损映射以确定部件在至少一个兴趣点处的细长的微观结构的伸长方向的方法，其特征在于，该方法包括至少两个连续的强度测量步骤，强度测量步骤包括以下步骤：使线性传感器旋转至多个角度位置的旋转子步骤，所述线性传感器包括多个...
该专利属于赛峰集团;国家科学研究中心所有，仅供学习研究参考，未经过赛峰集团;国家科学研究中心授权不得商用。

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