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本发明公开了一种可控硅调光器的检测电路、装置及其检测方法，所述检测电路包括线电压采样模块、峰值电压采样模块、平均电压采样模块、判断模块和泄放模块；线电压采样模块对线电压进行采样后分别输出采样电压至峰值电压采样模块和平均电压采样模块；峰值电压...
该专利属于深圳市晟碟半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市晟碟半导体有限公司授权不得商用。

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