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本发明公开了一种提高闪存可利用率的方法，首先判断闪存各逻辑单元的辨识号,看是否都存在,接着对闪存所有空间写入测试资料,下一步进行资料的对比,再来分析前面测试的结果,如果所有逻辑单元都正常,则直接进入生产状态,如果有逻辑单元不能使用,则利用硬...
该专利属于江苏华存电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏华存电子科技有限公司授权不得商用。

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