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本发明涉及一种基于深度学习的卷积神经网络电子元器件质量检测方法，属于故障诊断技术与信号处理分析技术领域。本发明首先搜集不合格电子元器件的图像，如元件缺脚、错误打标，将收集到的图像分为训练集、验证集和测试集，并对数据集中的图像进行不合格区域标...
该专利属于南京工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过南京工业大学授权不得商用。

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