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本发明公开了一种基于语义分割的密封圈表面缺陷检测方法，其包括：根据合格密封圈图像与不合格密封圈图像，确定所需检测的密封圈图像的缺陷类型；采集密封圈图像并进行预处理；对所述预处理后的图像进行像素级别的缺陷标注，并将原始密封圈图像及其对应的标注...
该专利属于太仓中科信息技术研究院所有，仅供学习研究参考，未经过太仓中科信息技术研究院授权不得商用。

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