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本发明公开了一种适用于多规格半导体的封装检测设备，包括支架、第一支撑板和推送装置，所述支架的左侧内表面安装有第一齿柱，所述传动齿轮的表面安装有摇杆，所述传动齿轮的侧面安装有第二齿柱，所述触碰杆的底部偏离安装有检测台，所述滑动杆的顶部安装有第...
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