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本发明提出了一种测试单板电容的方法包括：进行相位调整，调整激励２的相位，使测试仪的两个激励的相位保持同步；加载被测对象后进行测量，反复调整电容，直到输出电压足够小，计算最终调整后的电容值即为测得结果；测量系统的电容和系统电阻；将测量结果减去...
该专利属于中兴通讯股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中兴通讯股份有限公司授权不得商用。

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